GDJF-2006局部放電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格
簡要描述：單介紹 GDJF-2006局部放電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。
產(chǎn)品價(jià)格：
- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新日期：2025-02-18
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局部放電測(cè)試系統(tǒng)
局部放電的定義及產(chǎn)生原因
在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電，稱之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義，指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電，局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種：
- 電場(chǎng)不均勻。
- 電介質(zhì)不均勻。
- 制造過程的氣泡或雜質(zhì)。經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡；其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同，也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫；再有一些是在運(yùn)行過程中有機(jī)高分子的老化，分解出各種揮發(fā)物，在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下，電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中， 在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。
局部放電測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品用途
GDJF2006 局部放電檢測(cè)分析系統(tǒng)（局放儀）由三大模塊構(gòu)成：信號(hào)處理模塊，隔離模塊，采集處理模塊。根據(jù)系統(tǒng)連接圖，檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)檢出并送到信號(hào)處理模塊，信號(hào)處理模塊完成將局部放電信號(hào)整理、放大、整形等功能后將局部放電信號(hào)送往隔離模塊，隔離模塊將計(jì)算機(jī)采集處理模塊和信號(hào)處理模塊隔開，防止它們之間互相干擾，后由采集處理模塊完成對(duì)局部放電信號(hào)的采集.處理.分析和顯示
- 采用高速.大容量數(shù)據(jù)采集卡，能進(jìn)行連續(xù)采集局放數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性好,準(zhǔn)確度高。
- 具有測(cè)試.分析(多參數(shù)分析.二維圖譜分析.三維圖譜分析).數(shù)據(jù)保存。報(bào)告生成及打印等功能
- 能同時(shí)顯示局部放電波形（橢圓。正鉉波。直線三種方式）。局放量和測(cè)試電壓。
- 在校正和測(cè)試過程中自動(dòng)調(diào)節(jié)增益而不需要人為干預(yù)，操做簡便.
- 可適應(yīng)工頻（50Hz）三倍頻（150Hz）至400Hz的電源。
- 可實(shí)現(xiàn)對(duì)外加電源頻率的自動(dòng)跟蹤.
- 開門開窗可任意設(shè)置小可至1度。
- 可單通道也可六個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量.
- 體積小，重量輕。既適合于電力部門和制造廠車間等現(xiàn)場(chǎng)使用，也適合于科學(xué)研究試驗(yàn)。
- 靈敏度高，適用的試品范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
局部放電測(cè)試系統(tǒng)
| 可測(cè)試品的電容量范圍 | 6pf～250μf |
| 檢測(cè)靈敏度 | <0.02pc（電容50pf時(shí)） |
| 放大器 | 3db低端頻率f1 10、20、30。50。80kHz任選，3db頻率fh 100 、200、300、400、500kHz任選 |
| 增益調(diào)節(jié)范圍>120db,檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性<1db | |
| 時(shí)間窗 | 窗寬1о～360о,窗位置可任意旋轉(zhuǎn) |
| 試驗(yàn)電壓表 | 0～200kV,數(shù)字表顯示時(shí)誤差＜3%F.S |
| 采集通道 | 4通道/卡 |
| 輸入阻抗 | 1MΩ |
| 采集卡采樣率 | 20MHz |
| AD分辨率12BIT。直流精確0.2% | |
| 每通道采樣長度 | 8M |
| 觸發(fā)方式 | 手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā) |
| 采集卡帶寬 | 3MHz（-3DB） |
| 重量 | 約15kg |
與局放儀相關(guān)的三種典型的試品的試驗(yàn)線路：
（一）并聯(lián)法 （二）串聯(lián)法 （三）平衡法
- 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)電路，又稱并聯(lián)法。適合于必須接地的試品。 其缺點(diǎn)是高壓引線對(duì)地雜散電容并聯(lián)在 CX上，會(huì)降低測(cè)試靈敏度。
- 接法的串聯(lián)法，其要求試品低壓端對(duì)地浮置。 其優(yōu)點(diǎn)是變壓器入口電容、高壓線對(duì)地雜散電容與耦合電容CK并聯(lián)，有利于提高試驗(yàn)靈敏度。缺點(diǎn)是試樣損壞時(shí)會(huì)損壞輸入單元。
- 平衡法試驗(yàn)電路：要求兩個(gè)試品相接近，至少電容量為同一數(shù)量級(jí)其優(yōu)點(diǎn)是外干擾強(qiáng)烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，并可消除變壓器雜散電容的影響，而且可做大電容試驗(yàn)。缺點(diǎn)是須要兩個(gè)相似的試品，且當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，需設(shè)法判別是哪個(gè)試品放電。
值得提出的是：由于現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)條件的限制（找到兩個(gè)相似的試品且要保證一個(gè)試品無放電不太容易），所以在現(xiàn)場(chǎng)平衡法比較難實(shí)現(xiàn)，另外，由于采用串聯(lián)法時(shí)，如果試品擊穿，將會(huì)對(duì)設(shè)備造成比較大的損害，所以出于對(duì)設(shè)備保護(hù)的想法，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)一般采用并聯(lián)法。
采用并聯(lián)法的整個(gè)系統(tǒng)的接線原理圖。
該系統(tǒng)采用脈沖電流法檢測(cè)高壓試品的局部放電量，由控制臺(tái)控制調(diào)壓器和變壓器在試品的高壓端產(chǎn)生測(cè)試局放所需的預(yù)加電壓和測(cè)試電壓，通過無局放藕合電容器和檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)取出并送至局部放電檢測(cè)儀顯示并判斷和測(cè)量。系統(tǒng)中的高壓電阻為了防止在測(cè)試過程中試品擊穿而損壞其他設(shè)備，兩個(gè)電源濾波器是將電源的干擾和整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分開，降低整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的背景干擾。
根據(jù)上述原理圖可以看出，局部放電測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度和整個(gè)系統(tǒng)密切相關(guān)，要想順利和準(zhǔn)確的進(jìn)行局部放電測(cè)試，就必須將整個(gè)系統(tǒng)考濾周到，包括系統(tǒng)的參數(shù)選取和連接方式。另外，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)，由于是驗(yàn)證性試驗(yàn)，高壓限流電阻可以省掉。
幾種典型試品的接線原理圖。
（1）電流互感器的局放測(cè)試接線原理圖
（2）電壓互感器的局放測(cè)試接線原理圖
A．工頻加壓方式接線原理圖
B．高頻加壓方式接線原理圖
為了防止電壓互感器在工頻電壓下產(chǎn)生大的勵(lì)磁電流而損壞，高壓電壓互感器一般采取自激勵(lì)的加壓方式。在電壓互感器的低壓側(cè)加一倍頻電源，在電壓互感器的高壓端感應(yīng)出高壓來進(jìn)行局部放電實(shí)驗(yàn)。這就是通常所說的三倍頻實(shí)驗(yàn)。其接線原理圖如下：
(3)高壓電容器.絕緣子的局放測(cè)試接線原理圖
(4) 發(fā)電機(jī)的局放測(cè)試接線原理圖
（5）變壓器的局部放電測(cè)試接線原理圖
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